光学顕微鏡(LM)電子顕微鏡(EM),および原子間力顕微鏡(AFM)の観察で用いる高品質切片や試料断面を,これまでになく簡単にかつ正確に作製できる先鋭の試料作製技術を搭載。ライカEM UC7は,LMで用いる準超薄切片から,TEMで要求される高品質な超薄切片,さらにSEM、あるいはAFM観察で必要な高い面精度の断面作製にも活用できます。超精密機構でありながら,人間工学に基づいた設計,およびタッチパネル式コントロールユニットの直感的レイアウトを採用したライカEM UC7は様々な場面で最高品質の試料作製に最適化されています。