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茎顕微鏡HF5000
素材研究用
素材分析用
計測学用
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特徴
- タイプ
- 阀杆
- 応用
- 計測学用, 素材研究用, 素材分析用
- 観察技術
- Bf-stem, df-stem， @ンサ@チュ
- 構成
- 床置き
- 電子源
- 冷陰極電界放出
- レンズ設計
- 収差補正
- 検出器の特徴
- 2次電子
- その他の特徴
- 高解像度，自動，半導体用，ナノテクノロジ用，高増粘性
- 倍率
-
最少:20单位
最大:8000000单元
- 分解能
-
0.08 nm, 0.1 nm
詳細
日立独自の200千伏収差補正TEM /阀杆:画像分解能と分析性能の絶妙なハーモニー0. hf5000は,日立独自の200千伏収差補正TEM /茎により,078 nmの空間分解能と,高い試料傾斜能力,大立体角EDX検出器を単一対物レンズ構成で実現した,茎専用機です。HF5000は,日立独自の全自動収差補正装置,対称型デュアルSDD EDX, Cs補正SEイメージングなど,日立hd - 2700専用干细胞の特徴を引き継いでいます。また，hfシリズで培った先進のtem / stem技術も搭載しています.输出说明これらの蓄積された技術を200 kv TEM /茎プラットフォームに統合することで,サブオーダーのイメージングと解析の最適な組み合わせと,最先端の研究に対応する柔軟性と独自の機能を備えた装置が誕生しました。モニタ画面内蔵，第2モニタオプション付き。——日立全自動プローブ形成式球面収差補正装置,高輝度・高安定性のコールドFE電子銃冷FEG -超安定なカラムと電源で装置性能を強化——原子分解能のCs補正SEM&STEM同時イメージング機能——高安定なサイドエントリー試料ステージと試料ホルダを新たに搭載——対称型デュアル100平方毫米EDX *検出器:“对称双SDD *”搭載——実際の実験室環境で最適な性能を発揮する新設計の筐体——豊富な日立アドバンスト試料台*。高輝度冷FEG×高安定性×日立製自動収差補正装置日立が長年培ってきた冷電界放出型電子源技術を全面的に見直し,高安定性を実現した新型冷FEGを採用。
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