四重極分光器方程式

二次イオン質量 分析用 高感度

固体試料からの二次的な正負のイオンを分析するシステム希登分析社は,世界トップクラスの質量分析ソリューションとイオン分析のための革新的なツールを提供していますが,その中には試行錯誤を重ねた希登方程式が含まれています。この高透過率の静電四重極型二次イオン質量分析装置(SIMS)は研究スケールの薄膜ナノスケール表面分析で最も人気のある検出システムの一つです。方程式SIMSアナライザーは,XPSや集束イオンビームFIB顕微鏡システムの追加分析装置としても最適です。表面分析薄膜・表面工学触媒作用表面科学希登方程式は,固体試料からの正(+ ve)および負(负)の二次イオンの質量分析に特化したユニークな静電四重極型SIMS検出器です。また45°静電セクターイオンエネルギーアナライザを内蔵し,0.2電子ボルト(eV)の分解能でイオンエネルギーを同時に分析することができます。これにより,希登方程式は,以下のような多くの質量分析アプリケーションにおけるイオン分析のための最も汎用的なツールの1つとなっています。XPSの感度範囲を1000倍以上に拡大ダイナミックおよびスタティックSIMS集束イオンビーム(FIB)質量分析法二次標準質量分析法(需求スパッタデプスプロファイリングスパッタリングされたイオンおよびニュートラルの質量/エネルギー分析希登方程式は,高感度とオプションのディファレンシャルポンピング機能を備えており,イメージング,デプスプロファイリング,マススペクトルなど,さまざまなアプリケーションに対応します。